WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡

产品型号：WEK35391-2017
更新时间：2025-05-14

简要描述：WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡每个线对组由4块规格尺寸相同的薄片平行排列构成（薄片之间用与薄片等厚的金属隔片隔开），两侧放置最厚薄片的2倍厚度的校准块，每组线对卡里面的金属片组间隔为2.5mm

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WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡每个线对组由4块规格尺寸相同的薄片平行排列构成（薄片之间用与薄片等厚的金属隔片隔开），两侧放置最厚薄片的2倍厚度的校准块，每组线对卡里面的金属片组间隔为2.5mm。

WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡符合《GB/T 35391-2017无损检测工业计算机层析成像(CT)检测用空间分辨力测试卡》要求

线对卡,按分辨力高低分为三种:

1)Ⅲ级线对卡

2)Ⅱ级线对卡

3)工级线对卡;

线对卡是用来测试工业CT系统空间分辨力的一种标准试件,它是由钢、硅或其他由供需双方商定的材料制作的薄片构成的线对组,每个线对组由4块规格尺寸相同的薄片平行排列构成(薄片之间用与薄片等厚的金属隔片隔开),两侧放置最厚薄片的2倍厚度的校准块,其三维结构如图1、正视图如图2所示。

WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡实物拍摄图：

WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡实物图

WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡参数规格：

每个线对组中的薄片厚度为T，相邻片间隙宽度(金属隔片厚度)也为 T。各种等级线对卡的薄片厚度 T 及其对应的线对数见表 A.1。

等级	第1组		第2组		第3组		第4组		第5组
	片厚T mm	线对数 Lp/mm	片厚T mm	线对数 Lp/mm	片厚T mm	线对数 Lp/mm	片厚T mm	线对数 Lp/mm	片厚T mm	线对数 Lp/mm
Ⅲ级	0.100	5.0	0.125	4.0	0.150	3.3	0.200	2.5	0.250	2.0
Ⅱ级	0.150	3.3	0.200	2.5	0.250	2.0	0.300	1.7	0.500	1.0
Ⅰ级	0.250	2.0	0.300	1.7	0.500	1.0	0.650	0.8	1.000	0.5

每个线对组中的薄片长度L 为10mm，宽度W为8mm。

外型尺寸长(L)，宽(W)，高(H)，单位：mm。

图片
等级	Ⅰ级	Ⅱ级	Ⅲ级
线对	0.5至2.0LP/m	1.0至3.3LP/m	2.0至5.0LP/m
尺寸（mm）	45Lx26Wx20H	33Lx26Wx20H	30Lx26Wx20H

圆孔卡或细丝卡,按孔径或丝径大小分为两种:

1)Ⅱ级圆孔卡或Ⅱ级细丝卡

2)工级圆孔卡或I级细丝卡;

WEK35391-2017圆盘卡

圆孔卡是在均质圆柱形基体上,加工一系列直径不同的圆形孔,圆孔按行有序排列,其结构如图3所示。细丝卡是在均匀低密度圆柱形基体上,排列一系列直径不同的细丝,细丝按行有序排列。
圆盘卡是由均质的刚性材料制作的圆柱体,其结构如下图所示。圆盘卡材质应与被检测物体的射线吸收特性相同或相近,推荐使用钢或硅(或由供需双方商定的材料制作)。
WEK35391-2017空间分辨力测试卡

GBT35386-2017空气间隙试块

空气间隙试块是在均质刚性基体材料[一般为钢(例如 Q235)、铝(如 3003)、聚丙烯]中人工制造一定直径和高度的空气间隙，使得切片厚度内的局部平均密度发生变化，从而测试密度分辨力。其基本结构如图 A.5所示。

基体是由两个高密度圆柱体组成，高度在15mm以上。凹槽直径φ不小于20mm圆柱体直径可根据实际情况规定，一般不小于 3φ，凹槽深度 h根据切片厚度 .和实际情况确定。

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