LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

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更新时间：2024-07-10

简要描述：LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪，KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042多功能仪器具有精确的测量技术，操作简便。还包括通过解锁代码进行快速现场升级的选项。

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KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042多功能仪器具有精确的测量技术，操作简便。还包括通过解锁代码进行快速现场升级的选项。
系统可定制的涂层测量

KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042用于测量磁性基材上的非磁性涂层的厚度（根据DIN EN ISO 2178）并通过涡流法测量非磁性导电基材上的非导电涂层的厚度（根据DIN EN ISO 2360）。

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪，KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042应用
可靠的技术与舒适的工具相结合，例如将厚度值显示为模拟指针，类似于Windows的文件管理以及10种不同语言的免费选择，可以满足有抱负的用户的所有愿望。

LEPTOSKOP 2042是一款经济型仪器，电池使用寿命超过100小时。

该仪器会记录操作时间和测量次数，因此这些重要参数本身可用于正确跟踪测试设备。

供货范围内包括彩色橡胶保护套，并具有防滑保护功能，可在工业环境中保护仪器。

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪，KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042特点：
大型图形显示屏48毫米x 24毫米，带照明
校准选项：
出厂前已校准，可立即进行测量
在未知涂层上校准*
零位校准*
在未涂覆的基材上进行一次和多箔校准*
校准涂层材料*
校准数据可以单独存储在单独的校准文件中，也可以从那里重新加载。

可选择的显示模式，以最佳地适应测量任务*
输入和监控限额*
在Windows©下可以轻松管理文件来存储读数*
可与PC软件 EasyExport和 iCom一起使用
统计*
统计评估多达999个读数
最小，最大，平均值，读数数量，标准偏差，限值监控
局部厚度和平均涂层厚度（DIN EN ISO 2808）
在线统计，所有统计值一目了然

KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042选型：
LEPTOSKOP 2042具有三种配置级别：
基本 -质量可靠的基本功能
统计 -附加统计评估
统计和数据存储 -统计评估和数据存储

如果需要，可以随时将量规升级到高级和/或专业级别。升级过程通过代码执行，可以在现场输入代码以解锁模块“统计"和/或“统计和数据存储"。如果要为新的测量需求添加功能，则无需将仪表返回KARL DEUTSCH进行升级或购买新仪表。

KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042技术数据

串行接口	用于将数据传输到RS232或USB
电源	通过电池，USB或电源装置
测量范围	0-20000 µm（取决于探头）
测量率	每秒高达2个读数
存储	最高 9999个读数（最多140个文件）
测量不确定度（校准后）	涂层厚度<100 µm：读数的1％+/- 1 µm 涂层厚度> 100 µm：读数的1.0.3％+/- 1 µm 涂层厚度> 1000 µm：读数的3..5％ /-10 µm 涂层厚度> 10000 µm：读数的5％+ /- 100 µm

KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042附件

测试块和校准箔探头定位装置 -适用于所有微型探头定位辅助 -适用于所有微型探针 PC软件iCom-用于数据传输和整个目录结构的便捷管理 PC软件EasyExport-用于将单个读数或完整文件轻松导出到Windows©程序

SAG:LEPTOSKOP 2042,LEPTOSKOP2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪,KARL DEUTSCH LEPTOSKOP2042,涂层测厚仪

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